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芯片分選設(shè)備

H-500M  自動芯片測試設(shè)備(Die test)

H-500M 自動芯片測試設(shè)備(Die test)

★ 產(chǎn)品特點:

★本設(shè)備是針對托盤上料產(chǎn)品,對產(chǎn)品進行有序測試按測試結(jié)果自動分選 BIN 別至 tray,托盤尺寸:101x101±0.2mm;
★測試模式:晶圓測試探針卡;
★8個測試工位,機械手配2個吸盤 (一取一放) ,每個吸盤具有獨立真空監(jiān)測系統(tǒng),真空大小可控;
★本設(shè)備自帶機械校正,防靜電測試平臺,測試平臺設(shè)有獨立真空監(jiān)測系統(tǒng),真空大小可控;
★測試平臺可更換,能兼容大小不一的(DIE)產(chǎn)品,兼容測試針卡尺寸:75*150*2mm(基板尺寸,元器件尺寸需雙方確認);
★tray盤載臺分4×9宮格,可放36個料,可分Bin設(shè)置,缺料、滿料提醒。


★產(chǎn)品規(guī)格:

項目

規(guī)格

型號

H-500M

外形尺寸

1620mm×1150mm×1700mm

重    量

600Kg

電    源

單相 AC220V ±10﹪  50Hz

氣    源

0.4~0.7Mpa   干燥/無塵

解析度

X/Y軸±0.05mm

工作溫度/濕度

26℃ 相應(yīng)濕度15~90%

最大產(chǎn)能

500UPH


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